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普天同創（深圳）科技有限公司
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GWB-300型引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG 762-2007引伸計檢定規程及JJF 1096-2002引伸計標定器校準規范的要求，專門用于對各種規格標距引伸計的標定。v
結構特點及讀數方式：
1. 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置配件進行精密微變形量計量。
2. 精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內
筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其*量程25㎜；
最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。
位移變化讀數為：
L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）
其中：a－內筒毫米刻線讀數
b－外筒刻線讀數
c－游標刻線讀數
a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數
GWB－200JA引伸計標定儀精密微分筒
使用說明：
請依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：
1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。
3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：
（1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
（2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，檢定10點，即每0.1㎜檢一點。
（3）檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞，估算讀數或小數尾數
讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法最清晰簡單準確，出現誤差的機率最小，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數增加，這種粗大誤差會被很快及時發現。
4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。
配套組件：
組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。
刀片4件。裝置于組合校準桿上：用于COD或JIC夾規檢定。
橫試片2件。裝置于組合校準桿上：用于橫向引伸計的檢定。
板件2件。裝置于組合校準桿上：用于模擬板材試樣的檢定。
φ10×100桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。
聯接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上，連接分離試樣進行檢定。
為調試及安裝方便，隨儀器配有14號呆扳手一把、3號內六角扳手一把、一字頭、十字頭螺絲刀各一把。
GWB－200JA引伸計標定儀測量附件
維護與保養：
上、下支臂拆裝時，應防止定位釘或鋼球的脫落，抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。
器出廠時微分頭精度已調校，使用中不得自行拆卸。
應在清潔無塵環境使用，并注意隨時保持儀的清潔無塵。
注意防止外力損傷及銹蝕的產生。
定期交有關*復檢。
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