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SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀

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更新時間：2023-01-22 14:24:26瀏覽次數(shù)：208次

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產(chǎn)品簡介

靈活性，可提供更大的選擇自由度，高分辨率。應(yīng)用于制藥、生物、化工、食品、環(huán)境、緝毒等領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述

§ SYNAPT XS質(zhì)譜儀具有靈活性，可提供更大的選擇自由度。

§ 憑借沃特世高級質(zhì)譜“SELECT SERIES"傳承下來的技術(shù)基石，內(nèi)置*的創(chuàng)新技術(shù)，確保使用該平臺的科學(xué)家處于質(zhì)譜分析的，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。

§ 重新設(shè)計的分段四極桿傳輸光學(xué)元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進(jìn)一步提高分析穩(wěn)定性。

§ 針對最復(fù)雜的樣品，提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動態(tài)范圍和定量分析結(jié)果，同時提供的性能指標(biāo)。

優(yōu)勢特點(diǎn)

§ 創(chuàng)新技術(shù)作為基石，提供異的分析性能

§ SONAR和HDMSE提供一套的工具包，用于解析復(fù)雜混合物。

完整的分析策略需要結(jié)合適當(dāng)?shù)幕パa(bǔ)技術(shù)才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補(bǔ)機(jī)制，以無二的方式解析復(fù)雜混合物。

§ 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性

§ 傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實(shí)驗(yàn)中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù)，對分子進(jìn)行分離。

§ CCS測量可提高化合物鑒定的準(zhǔn)確性

離子CCS的測量結(jié)果有助于確定離子名稱或研究其結(jié)構(gòu)。運(yùn)用離子淌度技術(shù)，顯著提高了科學(xué)家分析復(fù)雜混合物和復(fù)雜分子的范圍和可信度。

§ CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結(jié)構(gòu)可進(jìn)行碰撞誘導(dǎo)解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質(zhì)量測定準(zhǔn)確，能夠拓展MS/MS檢測能力。

§ TAP碎裂

配置

離子源	ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™
傳輸模式	UPLC/Tof MRM
數(shù)據(jù)采集	UPLC/MS^E
碰撞室	XS碰撞室
數(shù)據(jù)分析	UPLC/FastDDA