一、產(chǎn)品介紹

XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

二、XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

三、兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)