產品展示
環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E
【簡單介紹】
【詳細說明】
1. 環(huán)境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等) AFM5300E能夠實現(xiàn)高真空的測試環(huán)境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現(xiàn)準確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制。(*利3857581號、*利3926638號) ●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特s氣氛(流量控制) ●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)
1. 環(huán)境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等)
AFM5300E能夠實現(xiàn)高真空的測試環(huán)境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現(xiàn)準確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制。(*利3857581號、*利3926638號)
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特s氣氛(流量控制)
●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)
●濕度控制(0~80%)

2. 簡便操作(綜合型Holder Flange)
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時,免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。

3. 高性能
采用了『Swing Cancel功能』,減輕了樣品的浮動,降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。

4. 通過減輕表面吸附水的影響,提高了電氣性能的檢測精度
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響,因而實現(xiàn)高分辨高靈敏的電學性能分析。

技術參數(shù)
1. 環(huán)境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等)
AFM5300E能夠實現(xiàn)高真空的測試環(huán)境,減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現(xiàn)準確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制。(*利3857581號、*利3926638號)
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特s氣氛(流量控制)
●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)
●濕度控制(0~80%)

2. 簡便操作(綜合型Holder Flange)
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時,免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。

3. 高性能
采用了『Swing Cancel功能』,減輕了樣品的浮動,降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。

4. 通過減輕表面吸附水的影響,提高了電氣性能的檢測精度
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響,因而實現(xiàn)高分辨高靈敏的電學性能分析。

技術參數(shù)
分辨率 | 原子相 |
---|---|
樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm) |
樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
掃描范圍 | 標準: 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH(閉環(huán)差控制) 定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡(×200倍) • 光學顯微鏡(×1000倍) • 變焦顯微鏡(×700倍) • 金相顯微鏡(裝有微分干渉)(×2000倍) |
檢測功能 |
|
選配件 | 高溫加熱樣品臺 加熱冷卻兼用樣品臺 冷卻真空 溫度控制 |