儀器介紹：
寬廣的溫度范圍，從 -100°C 到 500°C
無須更換檢測器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現 -100°C 到 500°C 的寬廣溫度范圍。加上目前市場上種類的可選配件，開創了熱物性測量的新天地。
進樣器附有 16 個樣品位，樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優勢是可以在整個溫度范圍內連續測量 16 個樣品，大大縮短了測量時間。液氮補給系統可以實現對檢測器與爐體的自動補充液氮，保證儀器全天候不間斷測量。
ZoomOptics 得到的測量結果更準確，減少測量誤差
技術的 ZoomOptics 優化了檢測器的檢測范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結果的精度。
*的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導熱材料需要快速的數據采集速率，來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數據采集速率，這是 LFA 系統的。
技術參數：
溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體非接觸式測量，IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程數據采集速率：高達 2MHz（包括半升溫信號檢測，及 pulse mapping 技術）-- 對于高導熱及薄膜樣品，采樣時間（約為半升溫時間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導熱系數）熱擴散系數測量范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s導熱系數測量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)樣品尺寸：
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導熱性能）16 個樣品位的自動進樣器20 多種支架類型豐富的測量模式，適應各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測試，等等。Zoom Optics 優化檢測器的檢測范圍（技術）保護的 pulse mapping 技術（US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測量精度氣氛：惰性、氧化性、靜態/動態、負壓遵從如下標準: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
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