日立高新掃描探針顯微鏡控制器

日立高新掃描探針顯微鏡控制器標準配備改良過的測量參數自動調整功能，以及簡單明了的圖形用戶界面。因此，即使是剛剛接觸SPM的人，或者測量某種全新的樣品時，也能取得具有較高再現性的數據。

特點：
㈠RealTune®II　測量參數自動調整功能
① 提升測量參數自動調整功能！此系列開發出一種全新的處理方法，可預測并調整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數。其通過對樣品表面的形狀、掃描區域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合評價，高效率、高精度地調整成合適的測量條件。
②通過新增加了振幅調整功能的測量參數自動調整功能（RealTune®II），可實現一鍵（One Click）測量。原來需要熟練操作的測量，現在沒有經驗的操作員也可以簡單地操作。
③也可用于很難調整參數的樣品。

【實例1】纖維狀的碳納米管結構體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】

此前的方法
此種樣品需要對參數進行精細的調整，操作困難，并且柔軟的纖維易變形產生皺痕。
新處理方法
自動調整成合適的參數，可在復雜的纖維結構不變形的前提下進行測量。

【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜（并五苯多結晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學北村研究室】

此前的方法
此款樣品表面容易損壞，易產生皺痕、step的輪廓也不明確。
新處理方法
自動調整為合適的參數，穩定地測量分子級別上的step結構。

㈡新圖形用戶界面（Graphical Use Interface）
簡單菜單
①簡單明了易懂的圖標、嚴格篩選的顯示信息，無論是無經驗者還是熟練操作員，都能夠方便地操作！
②可通過選項卡在測量及分析作業領域之間切換，畫面簡潔明了。可有效地廣泛使用。

㈢3D覆蓋功能
能夠將樣品形狀圖像及物理性質圖像重合起來顯示，并能進一步構畫出3D圖像，可以通過視覺形象地感受樣品的物理性質的分布。

㈣凹凸分析、剖面輪廓分析功能
具備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣化的分析功能。

㈤小型化設計
外形更輕便、更小型化，適合各種放置場所。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg