高頻微波介電常數試驗儀

Q表法的信號源頻率覆蓋范圍10kHz～110MHz；

1、電容直接測量范圍：1pF～2.5uF；主電容調節范圍：30～540pF；

2、電感測量范圍：1nH～8.4H，分辨率0.1nH，測量誤差＜3%；電感組LKI-1：分別由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成

3、S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置（可選液體杯，液體杯內徑Φ48mm、深7mm）

4、諧振點頻率自動搜索功能*

調諧電容有步進馬達帶動，根據不同電容值由CPU計算脈沖數去控制馬達。電容值可預置并可電容搜索。

　　工作頻率值、頻段、主調電容器值、諧振電感值、Q值、Q值比較設置狀態、Q值量程、手/自動狀態、頻率或電容搜索指示、Q值調諧指示帶、，都顯示液晶屏上，如圖所示。

　　圖 

　　整個顯示屏共分為四行

　　第yi行：左邊 信號源頻率指示，共6位

　　右邊 信號源虛擬頻段指示（1-4）

　　第er行：左邊 調諧電容指示值，4位

　　右邊 電感指示值，4位

　　第三行：左邊 Q值指示值

　　右邊 Q值合格比較狀態

　　第四行：左邊 Q值量程，手動/自動切換指示/調諧點自動搜索指示

　　右邊上部 Q值量程范圍指示

　　右邊下部 Q值調諧光帶指示

滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

一、  高頻微波介電常數試驗儀概述

介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

二、  測試原理

采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。

本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數。