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ATP6500-科學級高分辨率、高靈敏度光纖光譜儀

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更新時間：2023-01-18 14:13:52瀏覽次數：176次

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奧譜天成（廈門）光電有限公司/奧譜天成（廈門）科技有限公司

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產品簡介

詳細介紹

產品詳情

產品概述

　　ATP6500是奧譜天成研制的超高性能制冷型微型光纖光譜儀，是性能的，它采用1044 x 64像素的制冷型背照式線性CCD，該CCD具有的動態范圍，并采用了半導體制冷技術，降低了工作時的暗電流，CCD可工作在設定的恒溫環境(可達-20oC)，從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比(比同類競爭對手提高了約2倍)，而且提高了ATP6500的測量可靠性，測量結果不隨環境溫度變化。

　　同時，奧譜天成為ATP6500特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界水平。

　　ATP6500可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。

　　ATP6500只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。

特點：

　　? 積分時間：8ms-30min;

　　? 深度制冷背照式CCD(制冷至-20 ℃)

　　? 探測器像素：1044 x 64

　　? 超低噪聲CCD信號處理電路

　　? 量子效率：>90%;

　　? 超高動態范圍、超高信噪比;

　　? 光譜范圍: 180-1100nm(范圍內均可定制)

　　? 光譜分辨率: 0.01-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

　　? 光路結構：交叉C-T

　　? 供電電源：DC 5V±10% @ <3A

　　? 18 bit位深(輸出16bit)

　　? 光輸入接口：光纖輸入或自由空間輸入

　　? 數據輸出接口: USB 2.0或UART

　　? 20針雙排可編程外擴接口

典型應用：

　　? 科學研究;

　　? 微弱(生物)熒光檢測;

　　? 透過率檢測、反射率檢測;

　　? 拉曼光譜儀;

　　? 微量、快速分光光度計;

探測器
類型	線陣背照式CCD (制冷到 -20oC)
探測光譜范圍	180-1100 nm
有效像素	1044 x 64
像元尺寸	24μm×24μm
全量程范圍	~600 ke^-
靈敏度	6.5 uV/e-
暗噪聲	8 e-
光學參數
波長范圍	180-1100 nm
光學分辨率	0.01-1.3 nm （取決于狹縫、光譜范圍）
性噪比	>1000:1
動態范圍	50000：1
工作溫度	-10-45 ^oC
工作濕度	< 90%RH
光路參數
光學設計	f/4 交叉非對稱C-T光路
焦距	98 mm for incidence / 107 mm for output
入射狹縫寬度	5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制
入射光接口	SMA905光纖接口、自由空間
電氣參數
積分時間	8 ms - 30 min
數據輸出接口	USB 2.0
ADC位深	18 bit（輸出18 bit）
供電電源	DC 5V±10%
工作電流	<3A
存儲溫度	-20°C to +70°C
操作溫度	-10°C to +45°C
物理參數
尺寸	217×110×52 mm³
重量	1.65 kg
Sealing	Anti-sweat